Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1
Заказать мультиметр для исследования полупроводников sm/o1
Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1. Предназначен для прецизионных измерений полупроводниковых структур с применением DLTS, CPC, CV и IV методов. Удобное программное обеспечение позволяет выбирать и адаптировать методы измерения и режимы обработки данных. Электронный блок может использоваться с измерительными головками других подобных устройств. Техническая и методическая поддержка разработчиков и адаптация к требованиям потребителя. Опытный экземпляр .
Предложения похожие на Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1
Greenlee 5680-SC/FC/ST - набор для тестирования волс (SM) с адаптером
ПроизводительGreenlee TextronАртикул1367872173НаборДа
Greenlee 5890-SC/FC/ST - набор для тестирования волс (SM/MM) с адаптером
ПроизводительGreenlee TextronАртикул1899335855НаборДа
Динамик профессиональный НЧ Xline Динамик для сабвуфера SM-5000
Xline Динамик 15" для сабвуфера SM-5000, 4 ОмАртикул170986489
Xline Динамик для сабвуфера SM-5000
Динамик для сабвуфера SM-5000Артикул2833531964
Чехлы и кейсы для акустики GATOR G-PA TRANSPORT-SM - нейлоновая сумка для переноски акустических систем
Подходит для большинства компактных акустических систем меньшего размера, таких как Passport 150 Комбинированная конструкция из легкого дерева и нейлона Колеса и выдвижная ручка Съемный внутренний разделитель для систем в стиле Yamaha Большой внутрен...
Поделитесь страницей "Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1" в Социальных сетях
Контакты компании
Страна
Россия
Регион
Ленинградская область
Адрес
Санкт-Петербург, 10-я линия ВО, д.57
Телефон
+7 (812) 3282088
Оцените товар «Мультиметр для исследования полупроводников SM/O1», по 5-ти бальной шкале.
Выберите одну из цифр: 1-min, 5-max
В окне для комментариев вы можете оставить свой отзыв.