"Сканирующий туннельный микроскоп "Умка"

"СТМ «Умка» предназначен для проведения исследований поверхностей в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Позволяет осуществлять исследование электропроводящих и полупроводниковых поверхности на атомно-молекулярном уровне в атмосферных условиях с помощью метода сканирующей туннельной микроскопии. Результаты исследований получаются в виде чётких 2D- и 3D-изображений. Прибор компактен, виброустойчив, отличается удобством и надёжностью работы. Его можно использовать в условиях, обычных для электронных приборов. Функциональные возможности»: - определение топологии поверхности образцов с атомарным разрешением и получение её чётких 2D- и 3D-изображений; - определение работы выхода и импеданса: определение примесей в исследуемом материале; - определение вольт-амперных, вольт-высотных и дифференциальных характеристик материала: определение типа проводимости материала, анализ структур проводящих и магнитных образцов на атомно-молекулярном уровне; - измерение параметров профиля (шероховатость, размер включений и наночастиц); - оценка длительного внешнего воздействия на образцы в режиме реального времени (in situ) (определение коррозионной устойчивости, радиационного воздействия и т.д.). СТМ «УМКА» позволяет также выполнять работы, требующие определение характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне и их анализ (в частности, выполнять анализ состояния покрытий и поверхностей обработанных деталей; проводить исследование электропроводящих и слабопроводящих поверхностей и т.п.)."