Прямой инспекционный микроскоп для исследования полупроводниковых подложек и трафаретов

Микроскопы Eclipse L200N/L200ND идеальный инструмент для исследования полупроводниковых пластин диаметром до 200мм на наличие дефектов. Модели L200N/L200ND пришли на смену предыдущей серии микроскопов L200/L200D. В комбинации с новой оптикой CFI60 LU/L и новой осветительной системой, этот микроскоп обеспечивает картинку великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Применение в комбинации со станцией загрузки подложек обеспечивает исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, трафаретов, сеток и прочих подложек.